Дистанционное обучение по специальности Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники в Астрахани

Обучение по направлению: Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники в Астрахани

Характеристика работ. Измерение электрических параметроврадиодеталей на контрольно-измерительных приборах, автоматах и полуавтоматах всерийном и массовом производствах. Измерение электрических параметров:индуктивности, омического сопротивления, емкости на заданный номинал. Измерениеэлектрических параметров селеновых элементов на измерительных пультах.Периодическая проверка на приборах правильности рассортировки изделий поизмеряемым параметрам. Электро- и термотренировка резисторов. Замена резисторови конденсаторов с точностью 5 - 15%. Самостоятельная настройка приборов поэталону на требуемые значения электрических и электромагнитных параметров ипериодическая проверка правильности их показаний.

Должен знать: наименование, назначение и условия примененияконтрольно-измерительных аппаратуры и приборов; методы проверки, настройки ирегулирования измерительных приборов в процессе работы; правила пользованияшкалами и таблицами на погрешность прибора и на изменение емкости послепрокаливания; номинальные значения и допускаемые величины измеряемыхпараметров; методы измерения емкости и подгонки заданной емкости; величинучастот, на которых производится измерение магнитных параметров; основныепонятия о переменном токе; единицы измерения электрического тока; пределыдопусков для измерения по заданному классу точности.

Примеры работ

1. Изделия типа ТОЛ, ТОТ, М-63 - измерение электрическихпараметров.

2. Кольца альсиферовые - измерение индуктивности имагнитной проницаемости с рассортировкой по группам проницаемости.

3. Конденсаторы оксидные - измерение емкости, тангенса угладиэлектрических потерь и тока утечки на приборах и автоматах.

4. Контур промежуточной частоты (фильтр) - измерениепараметров.

5. Конденсаторы и блоки керамические герметизированныетрубчатые - измерение стабильности на приборе.

6. Магнитопроводы из электротехнической стали (толщиналенты 0,03 - 0,35 мм) - измерение электрических параметров и геометрическихразмеров.

7. Микротрансформаторы - измерение сопротивления междуобмотками.

8. Пластины ферритовые - измерение электрических параметровна специальном стенде.

9. Предохранители керамические - измерение электрическихпараметров.

10. Резисторы постоянные и переменные - измерениеэлектрических параметров.

11. Радиолампы и кинескопы - проверка межэлектроднойемкости и напряжений.

12. Резисторы постоянные непроволочные - проверка шумомеромЭДС шумов.

13. Стержни антенн - проверка на приборах добротности иэлектрической емкости.

14. Секции и собранные конденсаторы: бумажные, слюдяные,стеклокерамические, пленочные - измерение емкости с рассортировкой по классамточности на приборах.

15. Сердечники - измерение магнитных параметров, измерениедобротности на омметре и индуктивности на ИЕЕВ или мосте УМ-3; проверкаудельного сопротивления и напряженности среднего поля на приборе.

16. Селеновые элементы серий "А", "Я","Ф", Т" всех размеров - измерение прямого и обратного тока.

17. Трансформаторы - проверка коэффициента трансформации,асимметрии обмоток, тока холостого хода, сопротивления обмоток и изоляции.

18. Тороиды - измерение на омметре электрическихпараметров.

§ 18. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники 3-го разряда

Характеристика работ. Измерение емкости, тангенса угладиэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и Другихэлектрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий наконтрольно-измерительных приборах. Определение электрических параметров понескольким шкалам прибора или по двум и более приборам. Измерение емкостных,обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов.Определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоевметодом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающимметодами. Определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристики сопротивлений МДП и ЦЦП-структур, измерение интенсивностиэлектролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов.Измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей.Испытание электрической прочности и сопротивления изоляции. Проверкаотсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде икупроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте. Пооперационныйконтроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контролькачества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность ивеличину сопротивления. Проверка микромодулей по картам сопротивлений инапряжений. Подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов.Травление и декапирование образцов в кислотах и травителях. Настройка приборовна измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров.Определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитнойпроницаемости. Элементарные расчеты по формулам.

Должен знать: устройство, назначение и условия примененияконтрольно-измерительных приборов; методику измерения электрических,электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники;свойства кислот и травителей; правила травления, декапирования и промывки;методы измерения толщины и типов проводимости; принципиальные схемы проверкивольт-амперных характеристик и пробивных напряжений; степень точности, пределыизмерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов; основныетеоретические положения электро- и радиотехники.

Примеры работ

1. Выпрямители селеновые из элементов серий "А","Г", "Я", "Ф" всех размеров - измерениеэлектропараметров.

2. Двуокись кремния на кремниевой подложке - измерениеплотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом приувеличении в 25 - 50 раз.

3. Изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрическихпараметров.

4. Конденсаторы - измерение электрических параметров.

5. Кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные -измерение электрических и электромагнитных параметров.

6. Микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициентатрансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, токанамагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками,длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех.

7. Многослойные печатные платы - разметка топологии, замерыпереходного сопротивления в отверстиях.

8. Пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои -определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданногокристаллографического направления оптическим методом.

9. Пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции- проверка статических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - определение толщиныэпитаксиальных структур методом шарового шлифа.

11. Платы электронных часов - проверка тока потребления,генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора.

12. Резисторы - измерение и подгонка сопротивлений;измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массовогопроизводства с точностью до +/- 5%.

13. Секции металлобумажные, пленочные - измерениеэлектрических параметров.

14. Секции оксидных конденсаторов - измерение емкости наспециальной установке.

15. Селеновые элементы серий "А", "Я","Ф", "Г" всех размеров - измерение всех электропараметров.

16. Слои диэлектрические, поликристаллические,эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасныхспектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящемИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия.

17. Стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскостиполяризации в заданном диапазоне.

18. Схемы интегральные - измерение электрофизическихпараметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС III степениинтеграции.

19. Трансформаторы и дроссели - измерение электрическихпараметров.

20. Ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерениеемкости, тангенса угла диэлектрических потерь.

§ 19. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники 4-го разряда

Характеристика работ. Измерение температурной стабильности,температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей.Измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность междувыводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкостиизмеряемых конденсаторов. Измерение электрических и электромагнитных параметровматриц и дешифраторов. Измерение удельных сопротивлений полупроводниковыхматериалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивленияполикристаллических слоев 4-зондовым методом. Определение скорости травлениядиэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей иудельных сопротивлений от температуры. Определение плотности дислокацииструктурных дефектов на металлографических микросхемах и однородностираспределения плотности по эталонам. Контроль статических параметров, контрольтестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/кв.мм. Проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений иэлектрических параметров в нормальных условиях и при крайних значенияхтемператур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ. Запитканапряжением различных микромодулей, установленных на стендах. Проверка поэлектрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновыхвыпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам длямодуляторов и изделий специального назначения. Вычисление электрическихпараметров по формулам и измерение их на приборах. Подготовка и настройкаустановок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталоннымпластинам. Проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов впроцессе работы.

Должен знать: устройство, принципиальные схемы, принципдействия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов;устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;электрические характеристики измеряемых изделий; способы настройки, регулировкии устранения мелких неисправностей приборов и автоматов; методы расчетовтемпературного коэффициента емкости; методы расчетов измерения емкости послевоздействия влаги, нагрузки, холода; основы теории электротехники ирадиотехники; назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структури их свойства; методы расчета величины тока смещения.

Примеры работ

1. Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам.

2. Диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуляД31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь.

3. Изделия из ферритов - измерение импульсных температурныххарактеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах.

4. Конденсаторы и резисторы - измерение температурныхкоэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение ивычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода.

5. Матрицы - измерение по электромагнитным параметрам сплотностью от 100 до 200 чисел на 1 кв. м с шагом 1 - 1,5 мм.

6. Монокристаллический кремний и германий - измерениеудельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации;изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляциипроводимости в точечном контакте.

7. МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы наустановке УКП.

8. Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти- измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы идешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса иего амплитуды по показателям осциллографа.

9. Пластины, квадраты, кольца - измерение и расчетэлектрических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - замер неплоскостности наустановках типа 6019 с выводом значений на дисплей.

11. Платы печатного монтажа - контроль на короткоезамыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночнойстанции.

12. Секции накопителей памяти - измерение и сортировка поэлектрическим параметрам.

13. Селеновые выпрямители специального назначения -измерение электрических параметров.

14. Слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, наотсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции.

15. Слои структур арсенида галлия - измерение толщиныметодом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете.

16. Ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальныхстендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрическихпараметров по формулам и измерение их на приборе.

17. Фоторезисторы - измерение ЭДС шумов.

18. Электронные часы - настройка частоты генератора,проверка функциональных параметров.

§ 20. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники 5-го разряда

Характеристика работ. Измерение напряжения сигнала инапряжения помех, фазового сдвига, величины омического сопротивления и другихэлектрических и электромагнитных параметров радиодеталей на специальныхстендах, контрольно-измерительных приборах, осциллографах в условиях опытного исерийного производства. Снятие петли гистерезиса, определение коэффициентапотерь на гистерезис, а также магнитных параметров по петле гистерезиса.Подсчет величины электромагнитной индукции и поля, необходимой для проверкиизделий. Измерение удельных сопротивлений и толщины полупроводниковыхматериалов, эпитаксиальных, диэлектрических и поликристаллических слоевразличными методами. Определение плотности поверхностных состояний на границераздела полупроводник - диэлектрик. Определение концентрации, холловскойподвижности и оптического поглощения. Измерение кристаллов дискретных приборови микросхем со степенью интеграции до 1000 эл/кв. мм на измерительномоборудовании на предмет разбраковки их по тестам, функционированию, статическимпараметрам и динамическим свойствам. Проверка сложных схем микромодулей поэлектрическим параметрам. Проверка микромодулей специального назначения покартам сопротивлений, напряжений и электрическим характеристикам насоответствие требованиям ТУ в нормальных условиях и при крайних значенияхтемператур. Устранение неисправностей в обслуживаемом контрольно-измерительномоборудовании. Подготовка системы к работе, ввод рабочих программ. Работа наизмерительных установках с применением ЭВМ. Выбор режима работы.Документирование результатов контроля, расчет требуемых характеристик.

Должен знать: устройство, принципиальные схемы, принципдействия и способы проверки на точность измерительных установок; правилапроверки и регулирования измерительной аппаратуры; узлы и пульты управленияэлектронно-вычислительной техникой; правила эксплуатации системы в различныхрежимах работы; правила и способы тестирования, ввода программы с перфоленты ис пульта, значение систем исчисления, применяемых в вычислительной технике;методику и способы измерения электрических, электрофизических иэлектромагнитных параметров изделий; способы вычисления по формулам величинымагнитного поля и индукции; способы замера расчетных величин по приборам;правила подключения приборов к источникам питания; способы устранениянеисправностей; основы электро- и радиотехники.

Требуется среднее профессиональное образование.

Примеры работ

1. Блоки питания для вычислительных машин типа"Минск" - проверка по всем параметрам.

2. Дешифраторы для кубов памяти - определение фазовогосдвига, измерение амплитудного сигнала на стендах и приборах.

3. Диски, призмы, кольца пьезокерамические - измерениепьезомодуля Д31, емкости и тангенса диэлектрических потерь на измерительномкомплексе "Параметр".

4. Кольца ферритовые с ППГ - измерение электромагнитныхпараметров.

5. Конденсаторы, резисторы, микросхемы - измерение иразбраковка по основным параметрам.

6. Монокристаллический кремний и германий - изготовлениеобразцов и нанесение омических контактов для измерения коэффициента Холла иудельной электропроводимости; контроль линий скольжения; определение временижизни методом подвижного светового зонда.

7. МПП с количеством точек свыше 3000 - проверка схемы наустановке УКПМ-2; нахождение в схеме места дефектов согласно протоколуавтоматизированного контроля.

8. Носители заряда - определение концентраций и подвижностив интервале температур методом эффекта Холла.

9. Пластины кремниевые полированные - выявление и контрольисчезающих и неисчезающих рисок.

10. Пластины с кристаллами ИМС и дискретных структуртранзисторов - разбраковка кристаллов по группам с использованием дисплея ЭВМ.

11. Пластины опытные и кольца - измерение электромагнитныхпараметров.

12. Пластины и кольца с прямоугольной петлей гистерезиса -снятие характеристик, измерение и расчет электрических и электромагнитныхпараметров.

13. Пластины полупроводниковые - определение распределенияконцентрации и подвижности носителей тока по толщине активного слояэпитаксиальных структур.

14. Резисторы и конденсаторы мощные - расчет нагрузок,проведение испытаний на высоковольтных высокочастотных установках поднагрузкой; измерение электрических характеристик до и после испытания.

15. Слои гетероструктурные на арсениде галлия - измерениеинтенсивности рекомбинационного излучения.

16. Структуры эпитаксиальные - проведение комплексаизмерений на соответствие техническим уровням; измерение распределенияудельного сопротивления по глубине эпитаксиального слоя; определение удельногосопротивления эпитаксиального слоя, имеющего одинаковый с подложкой типпроводимости.

Комментарии к профессии

Приведенные тарифно-квалификационные характеристики профессии «Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники» служат для тарификации работ и присвоения тарифных разрядов согласно статьи 143 Трудового кодекса Российской Федерации. На основе приведенных выше характеристик работы и предъявляемых требований к профессиональным знаниям и навыкам составляется должностная инструкция измерителя электрофизических параметров изделий электронной техники, а также документы, требуемые для проведения собеседования и тестирования при приеме на работу. При составлении рабочих (должностных) инструкций обратите внимание на общие положения и рекомендации к данному выпуску ЕТКС (см. раздел «Введение»).

Обращаем ваше внимание на то, что одинаковые и схожие наименования рабочих профессий могут встречаться в разных выпусках ЕТКС. Найти схожие названия можно через справочник рабочих профессий (по алфавиту).